2015年5月18日， 国际著名华人食品科学家、欧洲人文和自然科学院(Academia Europaea)院士、爱尔兰皇家科学院院士、国际食品科学院院士、爱尔兰国立都柏林大学终身教授孙大文博士莅临我室交流访问。期间，他参观了重点实验室各研究方向和公共研究平台，在201会议室与从事相关领域研究的教授进行了交流，之后在401报告厅作了题为 “高光谱成像技术在食品质量与安全检测中应用”的学术报告。报告会由南昌大学副校长、重点实验室主任谢明勇教授主持。重点实验室和食品学院师生100余人聆听了报告。

　　　孙大文博士首先简单介绍了电磁波谱及在生产和实验中的普通评测方法，然后讲述了高光谱成像技术的原理、光谱成像方法的区别、光谱成像的配置、软件及其在食品检测中的应用，并详细介绍了其团队在近几年里获得的成绩及研究方向。孙大文博士详细解答了师生们的问题。整场报告学术气氛浓郁，与会师生深感受益匪浅。

　　　孙大文博士，国际著名华人食品科学家、欧洲人文和自然科学院(Academia Europaea)院士、爱尔兰皇家科学院院士、国际食品科学院院士、爱尔兰国立都柏林大学终身教授。2011年，华南理工大学“广东省领军人才”入选者、 2013年3月，获“影响世界华人大奖”。国际学术期刊《Food and Bioprocess Technology，简称FABT》（食品与生物加工技术）创刊人、主编。据国际权威新闻机构汤森路透最新发布的Highly Cited Researchers统计，孙博士被评为农业科学专业领域全球前1%的 “最高引用的科学家”。